E-beam 檢測設備

TORAY NGR3500 系列為次世代E-beam 檢測設備,專為高階半導體製程節點(5nm / 3nm / 以下) 所開發,具備高解析度、高靈敏度與高速掃描能力,可有效檢測出光刻、蝕刻與沉積後之微小缺陷,提升製程品質控制能力。

主要特點 :

高解析電子束技術,最小缺陷偵測能力可達 1nm。大範圍快速掃描功能。支援Inline 檢測需求。
AI 缺陷分類系統,提升缺陷判讀效率。支援自動化操作與SECS/GEM 通訊。

應用領域 :

晶圓缺陷檢測與分析。晶圓製程異常監控。
光罩與圖形轉寫品質控管。
先進製程(如EUV、3D IC等)良率分析。

TORAY 日商東麗:

東麗工程股份有限公司成立於 1960年,最初為東麗株式會社建造工廠並維護生產設備。
作為東麗集團旗下公司之一,東麗工程擁有 11 家在日本及海外的子公司,現今主要從事三大業務領域:工程、電子,以及環境與能源。
Established in 1960, Toray Engineering started out building plants and maintaining production equipment for Toray Industries. A Toray Group company with eleven subsidiary companies in Japan and overseas, Toray Engineering currently engages in three businesses—Engineering, Electronics, and Environment C Energy.

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